磁性フォトニック結晶を用いた表面欠陥可視化の基礎検討

カテゴリ: 部門大会

論文No: 12-A-a2-5

グループ名: 【A】平成25年電気学会基礎・材料・共通部門大会講演論文集

発行日: 2013/09/12

著者名: 橋本良介 (豊橋技術科学大学),米澤拓臣 (豊橋技術科学大学),高木宏幸 (豊橋技術科学大学),井上光輝 (豊橋技術科学大学)

キーワード: 磁気光学イメージング| 磁性フォトニック結晶| 非破壊検査

要約(日本語): 表面欠陥の高速な非破壊検査の一つに、漏洩磁界を磁気光学効果で可視化する磁気光学イメージングがある。しかし欠陥深さを評価するためには、磁性膜を高さ方向に移動して欠陥深さに伴う磁界分布の変化を可視化する必要があり、高速な検査が難しくなる。そこで磁性膜を移動せずに磁界分布を可視化する方法として、局在波長の異なる複数の磁性層を挿入した磁性フォトニック結晶を設計し、得られる磁界分布から欠陥深さを推定した。

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