走査型プローブ顕微鏡による難燃エチレンプロピレンゴム内部の劣化状況観察

カテゴリ: 部門大会

論文No: 13-D-a-5

グループ名: 【A】平成25年電気学会基礎・材料・共通部門大会講演論文集

発行日: 2013/09/12

著者名: 仁木貴之 (早稲田大学),平井直志 (早稲田大学),大木義路 (早稲田大学)

キーワード: 走査型プローブ顕微鏡| 劣化診断ケーブル| ケーブル| エチレンプロピレンゴム

要約(日本語): 100oCでコバルトガンマ線を照射した難燃エチレンプロピレンゴムシートを切断，研磨したのち，切断面を走査型プローブ顕微鏡により測定した処，照射量が1000kGyを超えると，位相遅れが減少し，高さは変化しなかった。このことは熱・放射線同時劣化によりゴムの内部が硬化していることを示唆する。

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