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イオンセンシティブプローブとレーザー誘起蛍光法による低温高密度磁化プラズマ中のイオン温度計測

イオンセンシティブプローブとレーザー誘起蛍光法による低温高密度磁化プラズマ中のイオン温度計測

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カテゴリ: 部門大会

論文No: 21-E-p-3

グループ名: 【A】平成26年電気学会基礎・材料・共通部門大会講演論文集

発行日: 2014/08/21

著者名: 江角直道 (長野高専),櫻井駿 (長野高専),ハニフザイヌディン (長野高専),田中宏彦 (核融合研),増崎貴 (核融合研),大野哲靖 (名古屋大学)

キーワード: プラズマ| イオンセンシティブプローブイオン温度| イオン温度| レーザー誘起蛍光法

要約(日本語): 低温高密度プラズマ中のイオンの挙動は、プラズマ対向材料への影響等の観点から重要であるものの、その状態の把握は低温であるほど困難となる。本研究では、磁場中の低温高密度プラズマについて、簡便で空間分解能に優れたプローブによるイオン温度計測法の精密化を目的として、イオンセンシティブプローブとレーザー誘起蛍光法によるイオン温度の詳細な比較を行っている。講演では、これらの比較評価結果について報告する。

PDFファイルサイズ: 247 Kバイト

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