熱・放射線同時劣化したエチレンプロピレンゴムのOIT測定に関する検討

カテゴリ: 部門大会

論文No: 22-D-a2-3

グループ名: 【A】平成26年電気学会基礎・材料・共通部門大会講演論文集

発行日: 2014/08/21

著者名: 三坂英樹 (電力中央研究所),布施則一 (電力中央研究所),栗原隆史 (電力中央研究所),金神雅樹 (電力中央研究所),本間宏也 (電力中央研究所),岡本達希 (電力中央研究所)

キーワード: 熱・放射線劣化| 安全系ケーブル| エチレンプロピレンゴム| 酸化防止剤| 原子力発電所

要約(日本語): 様々な条件（温度および線量率）にて熱・放射線同時劣化したエチレンプロピレンゴム試料に対して，酸化誘導時間（OIT）測定を行った。その結果，OIT値は機械特性の低下と同様に低下する傾向を示した。

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