遠距離検査環境における赤外線二次元ロックインアンプによる微小欠陥の検出

カテゴリ: 部門大会

論文No: 21-F-pP-24

グループ名: 【A】平成26年電気学会基礎・材料・共通部門大会講演論文集

発行日: 2014/08/21

著者名: 齋藤壮志 (東京都市大学),新海直人 (日本車両製造),田中康寛 (東京都市大学),落合啓 (情報通信研究機構),前野恭 (情報通信研究機構)

キーワード: 非破壊検査| 二次元ロックインアンプ| 断熱温度場法

要約(日本語): 近年、自然災害や経年劣化による建造物内部の損傷状況を非破壊かつ短時間で実施できる診断法の確立が求められており、これまでに赤外線カメラを用いた表面温度計測に基づく劣化診断法に二次元ロックインアンプ処理を適用した非破壊検査装置を開発し、模擬試料や建造物外壁を用いた実証化試験を行ってきた。ここでは、これまで困難であった、比較的遠距離にある対象物内の微小欠陥検出に挑戦し、実用化について検討を行なった。

PDFファイルサイズ: 386 Kバイト