ナノプローブによるスピン流イメージングのための強磁性金属／半導体境界の検出

カテゴリ: 部門大会

論文No: 21-B-a2-2

グループ名: 【A】平成26年電気学会基礎・材料・共通部門大会講演論文集

発行日: 2014/08/21

著者名: 岩間三典 (宇都宮大学),渡辺浩平 (宇都宮大学),佐久間洋志 (宇都宮大学),石井清 (宇都宮大学)

キーワード: スピン流| プローブ顕微鏡| 電界分布

要約(日本語): 本研究ではナノプローブを二次元的に走査し、スピン流を可視化することを最終目標としている。スピン流はスピン注入源である強磁性金属から1 ?m程度離れると消失してしまうため、プローブを強磁性金属の端に10 nm以下の精度で近づけなければならない。これまでにモータによる位置制御で?mの精度で金属／半導体の境界を検出した。今後ピエゾ素子を用いて10 nm以下の精度で境界を検出することを目指す。

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