走査型プローブ顕微鏡とインデンターによるシリコーンゴムの硬化の検出

カテゴリ: 部門大会

論文No: 17-P-46

グループ名: 【A】平成27年電気学会基礎・材料・共通部門大会講演論文集

発行日: 2015/09/17

著者名: 花田脩伍 (早稲田大学),平井直志 (早稲田大学),大木義路 (早稲田大学)

キーワード: 走査型プローブ顕微鏡| インデンターモジュラス| 引張破断伸び| シリコーンゴム| 劣化| ガンマ線

PDFファイルサイズ: 292 Kバイト