エナメル電極系における部分放電特性の正弦波印加電圧周波数依存性

カテゴリ: 部門大会

論文No: 6-A-p2-3

グループ名: 【A】平成28年電気学会基礎・材料・共通部門大会講演論文集

発行日: 2016/09/01

著者名: 橋本 祥斉(東北大学),岡本 達希(東北大学),大井 景(東北大学)

キーワード: 部分放電|エナメル線ツイストペア|最大放電電荷|放電発生頻度|φ-q分布|歪度

要約(日本語): モータ効率化の手段として高電圧化が求められており、巻線の絶縁膜の高性能化および絶縁劣化のプロセスの解明が求められている。本研究は巻線をエナメルツイストペアにより模擬し、絶縁劣化プロセスの中でも部分放電現象に着目したものである。正弦波印加電圧3000V_pp、50Hz～2000Hzに対する最大放電電荷、放電発生頻度、放電電荷の位相分布を調べ、劣化パラメーターの周波数特性を明らかにすることで劣化診断の高速化について検討した。

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