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テラヘルツ時間領域分光測定における樹脂表面の散乱影響評価

テラヘルツ時間領域分光測定における樹脂表面の散乱影響評価

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カテゴリ: 部門大会

論文No: 5-C-a1-5

グループ名: 【A】平成28年電気学会基礎・材料・共通部門大会講演論文集

発行日: 2016/09/01

著者名: 布施 則一(電力中央研究所),福地 哲生(電力中央研究所),水野 麻弥(情報通信研究機構),福永 香(情報通信研究機構)

キーワード: テラヘルツ波|表面粗さ|周波数解析|エポキシ樹脂

要約(日本語): 不透明な塗膜下で生じる鋼材腐食のテラヘルツイメージングについては,塗膜樹脂表面の粗さによる散乱影響を考慮する必要がある。本研究では,モデル試料としてのエポキシシートを用い,種々の周波数領域を持つテラヘルツ波の反射パルスを取得し,周波数解析から上記表面あれ等の影響を評価した。その結果,低周波数光源を用いる場合,粗さ4μm以下の凹凸は無視できることが分かった。

PDFファイルサイズ: 279 Kバイト

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