電子顕微鏡を用いたパルス電界印加後の耐塩性酵母の形状観察

カテゴリ: 部門大会

論文No: 5-P-24

グループ名: 【A】平成28年電気学会基礎・材料・共通部門大会講演論文集

発行日: 2016/09/01

著者名: 小松 偉仁(神奈川工科大学),中田 悠太(神奈川工科大学),瑞慶覧 章朝(神奈川工科大学),乾 貴誌(富士電機),和田 理征(神奈川工科大学),澤井 淳(神奈川工科大学)

要約(日本語): 本研究は、パルス電界を用いた海水の殺菌を目的とし実験を行った。針対針電極を使用し耐塩性酵母を含んだ模擬海水に対し、パルス電界を加えた。パルス電圧のピーク値は10kVpとし、GAPを1～10mmと変化させ生存率とパルス印加回数の関係を測定した。また、電子顕微鏡を用いて菌の外形を観測した。その結果、電界強度が強く、GAP長が狭いほど生存率が低くなった。菌の外形が変化していることも確認された。

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