X線照射が与えるDNA損傷のMEMSピンセットによる評価

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: BMS13032

グループ名: 【E】センサ・マイクロマシン部門 バイオ・マイクロシステム研究会

発行日: 2013/08/09

タイトル(英語): Evaluation with MEMS Tweezers of the X-radiation Damage on DNA

著者名: 江 柏村(東京大学工学系研究科電気系工学修士課程),Perret Gregoire(東京大学生産技術研究所),Lafitte Nicolas(東京大学生産技術研究所),久米村 百子(東京大学生産技術研究所),Jalabert Laurent(東京大学生産技術研究所),Guillou Herve(東京大学生産技術研究所),Lacornerie Thomas(Centre Oscar Lambret,University of Lille 2,France),Lartigau Eric(Centre Oscar Lambret,University of Lille 2,France),Cleri Fabrizio(IEMN,UMR8520,CNRS,University of Lille 1,France),Collard Dominique(東京大学生産技術研究所),藤田 博之(東京大学生産技術研究所)

著者名(英語): Chiang PoTsun(Master Student,Department of Electrical Engineering of the Graduate School of Engineering,The University of Tokyo,Japan),Perret Gregoire(Institute of Industrial Science,The University of Tokyo,Japan),Lafitte Nicolas(Institute of Industrial Science,The University of Tokyo,Japan),Kumemura Momoko(Institute of Industrial Science,The University of Tokyo,Japan),Jalabert Laurent(Institute of Industrial Science,The University of Tokyo,Japan),Guillou Herve(Institute of Industrial Science,The University of Tokyo,Japan),Lacornerie Thomas(Centre Oscar Lambret,University of Lille 2,France),Lartigau Eric(Centre Oscar Lambret,University of Lille 2,France),Cleri Fabrizio(IEMN,UMR8520,CNRS,University of Lille 1,France),Collard Dominique(Institute of Industrial Science,The University of Tokyo,Japan),Fujita Hiroyuki(Institute of Industrial Science,The University of Tokyo,Japan)

キーワード: ＭＥＭＳ|ナノピンセット|遺伝子|Ｘ線|マイクロ流体|誘電泳動|MEMS|Nanotweezers|DNA|X-radiation|Microfluidics|Dielectrophoresis

要約(日本語): 放射線癌治療をより効果的にするため、放射線によるDNA損傷の機構の解明が必要である。本研究ではMEMSピンセットを道具として、X線が与えるDNA損傷を実時間で測定することを可能にした。DNA分子束を捕獲したMEMSピンセットの共振周波数を測り、DNA分子束の硬さを判別できる。DNA分子の損傷はその硬さに影響するため、分子束の硬さの変化は損傷の進行程度を示す。マイクロ流体デバイスを用い、X線によるDNA束の損傷を水中で測定できた。

要約(英語): To improve radiation therapy, the DNA degradation mechanisms under radiation should be studied. In this research we use silicon nanotweezers, one kind of MEMS devices for direct manipulation of DNA molecules, to detect the radiation-caused degradation. By measuring resonant frequency of tweezers capturing a DNA bundle under radiation, we monitored the damage-related stiffness change of DNA.

原稿種別: 日本語

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