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ガス温度300-3500KにおけるAirの臨界電界値へのCu蒸気混入の影響

ガス温度300-3500KにおけるAirの臨界電界値へのCu蒸気混入の影響

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カテゴリ: 部門大会

論文No: 230

グループ名: 【B】平成15年電気学会電力・エネルギー部門大会講演論文集

発行日: 2003/08/06

タイトル(英語): Influence of copper vapor contamination on critical dielectric strength of air in temperature range of 300-3500K

著者名: 田中 康規(金沢大学),作田 忠裕(金沢大学),渋谷 正豊(電力中央研究所)

著者名(英語): Yasunori Tanaka(Kanazawa University),Tadahiro Sakuta(Kanazawa University),Masatoyo Shibuya(CRIEPI)

キーワード: 空気|臨界電界値|実効電離係数|電子エネルギー分布関数|Boltzmann方程式|Air|Critical Dielectric Strength|Effective Ionization Coefficient|Electron Energy Distribution Function|Boltzmann Equation

要約(日本語): 遮断器あるいは開閉器の消弧媒体として空気が使用される場合がある。アーク遮断後の高温空気は絶縁耐力が室温状態より低下している。しかも多くの場合,電極金属材料からの蒸気が混入されている。本報告では,空気に銅蒸気が混入した場合の高温空気の絶縁耐力を2項近似Boltzamann方程式法により数値的に解き,銅蒸気混入の影響を検討している。

PDFファイルサイズ: 2,161 Kバイト

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