I-V特性を利用したPVアレイ故障箇所の診断とその特定方法

カテゴリ: 部門大会

論文No: 221

グループ名: 【B】平成15年電気学会電力・エネルギー部門大会講演論文集

発行日: 2003/08/06

タイトル(英語): Diagnosis and its determination method of failure parts of PV array system using the I-V characteristic.

著者名: 熊田 和彦(名城大学),山中 三四郎(名城大学),河村 一(名城大学),大野 英之(名城大学),河村 英昭(名城大学)

著者名(英語): Kazuhiko Kumada(Meijo　University),Sannsirou Yamanaka(Meijo　University),Hazime Kawamura(Meijo　University),Hideyuki Oono(Meijo　University),Hideaki Kawamura(Meijo　University)

キーワード: 太陽光発電|I-V特性|補正式|診断|Photovoltaic　System|I-V　Characteristic|Compensation formula|Diagnosis

要約(日本語): PVアレイの故障箇所を特定することは、保守・管理上重要である。筆者らはI-Vカーブの形状変化から故障の診断とその箇所を特定する方法について検討している。すなわち、PVアレイをいくつかのブロックにグループ化し、まずそれぞれのグループのI-V特性より故障箇所の診断を行い、異常が発見されたグループについては、更にPVモジュール単位でI-V特性をチェックし、順次異常箇所の絞込みを行い、最終的にその箇所を特定する方法について検討している。
　本報告では、この方法を12直列2並列で構成されたPVアレイに適用して異常な特性を示すPVモジュールが特定できたことを明らかにし、この方法の有効性について述べる。

PDFファイルサイズ: 1,295 Kバイト