長期使用したPVモジュールの性能評価
長期使用したPVモジュールの性能評価
カテゴリ: 部門大会
論文No: 223
グループ名: 【B】平成15年電気学会電力・エネルギー部門大会講演論文集
発行日: 2003/08/06
タイトル(英語): Performance evaluation of the PV module used over a long time
著者名: 森田 康一(名城大学),山中 三四郎(名城大学),河村 一(名城大学),大野 英之(名城大学),河村 英昭(名城大学),國井 康幸(中部電力)
著者名(英語): Kouichi Morita(Meijo University),Sansirou Yamanaka(Meijo University),Hajime Kawamura(Meijo University),Hideyuki Ohno(Meijo University),Hideaki Kawamura(Meijo University),Yasuyuki Kunii(Chubu Electoric Power)
キーワード: 太陽光発電|I-V特性|簡易診断法|性能評価|Photovoltaic System|I-V Characteristic|Simple diagnostic method|Performance evaluation
要約(日本語): 筆者らはI-V特性の形状変化、定格値を用いた簡易診断法によりPVモジュールの性能評価を行っている。
本報告は、これらの診断法を用いて、製造後10?22年経過した単結晶、多結晶、アモルファスPVモジュールについて性能評価を行った。この結果、22年経過した単結晶モジュールにおいては、シャント抵抗の低下に起因すると思われるI-Vカーブの形状変化が見られ、PVモジュールの性能低下が示唆された。一方、製造後17年経過したアモルファス太陽電池においては、そのパネル表面が変色しているにもかかわらず、二つの診断法からはPVモジュールの性能低下は認められなかった。
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