275kV級実規模全面導電釉がいし連の人工加速劣化試験による劣化特性の研究

カテゴリ: 部門大会

論文No: 381

グループ名: 【B】平成16年電気学会電力・エネルギー部門大会講演論文集

発行日: 2004/08/05

タイトル(英語): Ageing Test Results of 275-kV Full Scale Semiconducting Glazed Insulator Strings

著者名: 平山 哲也(中部大学),松岡 良輔(中部大学),篠窪 弘行(中部大学),マランスリー ブンルアン(中部大学),バサンタ ガウタム(中部大学),三瓶 貴史(中部大学),伊藤雅大 (中部大学),久保田 毅(中部大学),松本 剛(中部大学),八重口 誠(中部大学)

著者名(英語): Tetsuya Hirayama(Chubu University),Ryosuke Matsuoka(Chubu University),Hiroyuki Sinokubo(Chubu University),Marungsri Boonruang(Chubu University),Basanta Gautam(Chubu University),Takashi Sanpe(Chubu University),Masahiro Ito(Chubu University),Takeshi Kubota(Chubu University),Tsuyoshi Matsumoto(Chubu University),Makoto Yaeguchi(Chubu University)

キーワード: 全面導電釉がいし|劣化|人工加速劣化試験人工加速劣化試験|Semiconducting Glazed Insulator|Deterioration|Artificial Accelerated Ageing Test

要約(日本語): 通常の磁気がいしの表面の釉薬を半導体にし、常時この釉薬中を流れる漏れ電流によって表面を乾燥し、又、表面の電位分布の均圧化を図った全面導電釉がいしは、優れた汚損フラッシオーバー電圧を示す。しかし、表面の釉薬中に常時電流を流すため、表面の釉薬は徐々に劣化する。
今回、275kV級実規模がいし連について、塩霧、蒸気霧、人工降雨、紫外線照射を組み合わせた1日24時間を1サイクルとする複合加速試験を350サイクル行い、がいし連結個数の劣化の進展に及ぼす影響を調査した。

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