低日射条件におけるPVアレイの出力低下診断方法

カテゴリ: 部門大会

論文No: 451

グループ名: 【B】平成16年電気学会電力・エネルギー部門大会講演論文集

発行日: 2004/08/05

タイトル(英語): A diagnosis method for the PV array in the low irradiance condition

著者名: 熊田 和彦(名城大学),山中 三四郎(名城大学),河村 一(名城大学),大野 英之(名城大学),河村 英昭(名城大学)

著者名(英語): Kazuhiko Kumada(Meijo University),Sanshiro Yamanaka(Meijo University),Hajime Kawamura(Meijo University),Hideyuki Ohno(Meijo University),Hideaki Kawamura(Meijo University)

キーワード: 太陽光発電|I-V特性|低日射条件|診断|Photovoltaic System|I-V　Characteristic|Low irradiance condition|Diagunosis

要約(日本語): PVアレイの故障箇所を特定することは、保守・管理上重要である。筆者らはI-Vカーブの形状変化から故障の診断と故障による出力低下箇所を特定する方法について検討している。
　これまでに晴天の高日射時にのみ出力低下診断を行なってきた。その結果、高日射時ではI-V特性の形状変化が確認でき、そこから診断法を用いて出力低下個所を特定できることを明らかにしてきた。しかし低日射条件においても診断が行なえなければ実用的ではない。
　本報告では、12直列2並列で構成されたPVアレイにおいて天候・日射強度に関係なくI-V特性の形状変化を確認できることを明らかにし、この診断法の実用性を述べる。

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