Siフォトダイオード型直達日射計の出力に及ぼすスペクトル分布の影響

カテゴリ: 部門大会

論文No: 268

グループ名: 【B】平成17年電気学会電力・エネルギー部門大会講演論文集

発行日: 2005/08/10

タイトル(英語): Affect of spectrum distribution on irradiance of Si photodiode pyrheliometer

著者名: 松崎 洋三(豊橋技術科学大学),福重 直行(豊橋技術科学大学),桶 真一郎(豊橋技術科学大学),見目 喜重(豊橋創造大学),滝川 浩史(豊橋技術科学大学),榊原 建樹(豊橋技術科学大学),荒木 建次(大同特殊鋼)

著者名(英語): Yozo Matsuzaki(Toyohashi University of Technology),Naoyuki Fukushige(Toyohashi University of Technology),Shinichiro Oke(Toyohashi University of Technology),Yoshishige Kemmoku(Toyohashi Sozo College),Hirofumi Takikawa(Toyohashi University of Technology),Tateki Sakakibara(Toyohashi University of Technology),Kenji Araki(Daido Metal Co.,Ltd)

キーワード: 直達日射強度|直達日射計|Siフォトダイオード|スペクトル分布|分光感度特性|direct irradiance|pyrheliometer|Si photodiode|spectrum distribution|spectrum sensitivity characteristic

要約(日本語): 集光式太陽光発電システムの変換効率を計算するためには,直達日射強度を正確に計測する必要がある。これまで直達日射強度は,熱電堆型直達日射計を使用して計測されてきた。これは,応答速度が遅く高価である。一方,Siフォトダイオード型直達日射計は応答速度が速く安価である。しかし,分光感度波長範囲が狭く,分光感度が均一でないという問題点がある。本研究では,Siフォトダイオード型直達日射計に及ぼすスペクトル分布の影響を計測する。計測の結果,直達日射強度が小さくなったときに熱電堆型直達日射計とSiフォトダイオード型直達日射計の直達日射強度に差が生じ,その原因が長波長側のスペクトル分布にあることがわかった。

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