真空ギャップの2点構成における絶縁破壊特性

カテゴリ: 部門大会

論文No: 324

グループ名: 【B】平成17年電気学会電力・エネルギー部門大会講演論文集

発行日: 2005/08/10

タイトル(英語): Breakdown Probability Distribution for Double-break Vacuum Circuit Breaker

著者名: 吉武 勇一郎(東芝),塩入 哲(東芝),横倉 邦夫(東芝),本間三孝 (東芝)

著者名(英語): Yuichiro Yoshitake(Toshiba Corporation),Tetsu Shioiri(Toshiba Corporation),Kunio Yokokura(Toshiba Corporation),Mitsutaka Homma(Toshiba Corporation)

キーワード: 真空バルブ|真空遮断器|破壊確率分布|ワイブル分布|Vacuum interrupter|Vacuum circuit breaker|Breakdown probability distribution|Weibull distribution

要約(日本語): 近年、スイッチギヤ市場においては環境に調和したスイッチギヤが要求されている。このため、環境負荷の少ない絶縁方式として真空絶縁が見直されており、断路器、接地装置などに適用されている。さらに、今後真空遮断器の高電圧化など適用範囲の拡大が期待されている。従って、真空絶縁の信頼性に関する研究が適用範囲の拡大と共に重要になっている。このような観点から、我々は真空ギャップの破壊確率分布がワイブル分布で表すことができることを明らかにした。また、真空ギャップの破壊電圧のばらつきは比較的大きいので、低い確率での破壊確率分布が絶縁の信頼性を検討するうえで重要になる。今回、我々は実用的な観点から、真空バルブの電極を無負荷で開閉した場合の破壊確率分布を調査した。さらに、真空遮断器の高電圧化を実現するための手段として、2点切り等の多点切り真空遮断器が考えられるので、前述の無負荷開閉のデータをもとに2点切り真空遮断器の絶縁破壊分布について検討した。

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