曲面抵抗体の面抵抗率を求める新しい理論に関する一考察

カテゴリ: 部門大会

論文No: 114

グループ名: 【B】平成18年電気学会電力・エネルギー部門大会講演論文集

発行日: 2006/09/13

タイトル(英語): A Study on a New Theory of Obtaining the Surface Resistivity of the Curved Thin Film Resistor

著者名: 渡辺 和夫(ビスキャス)

著者名(英語): Kazuo Watanabe(VISCAS corporation)

キーワード: 曲面抵抗体|微分位相幾何学|面抵抗率|等角写像

要約(日本語): 曲面状抵抗体の例として、ケーブルの分野ではCVケーブルの内、外部半導電層、電子材料分野ではフレキシブルプリント回路基盤や最近注目を集めている薄膜工学分野での例がある。
　これらの曲面抵抗体の面抵抗率を求める新しい理論に関して、本論文では微分位相幾何学的観点から考察し、任意形状の面抵抗体の抵抗率を求める方法を提案する。
　これまで、筆者はCVケーブル押出し半導電層の抵抗率を求める方法を無限長ケーブルを対象に言及してきた。今回は有限長短尺試料を対象に理論的に考察し、新しい測定法を提案する。更に、これを一般の任意形状の曲面抵抗体の面抵抗率を求める方法に拡張を試みる。

PDFファイルサイズ: 1,306 Kバイト