(‐dI/dV)-V特性を利用したPVアレイの発電電力低下診断

カテゴリ: 部門大会

論文No: 190

グループ名: 【B】平成18年電気学会電力・エネルギー部門大会講演論文集

発行日: 2006/09/13

タイトル(英語): Diagnosis of generated output deterioration of a PV array utilizing the (‐dI/dV)-V characteristic

著者名: 三輪 雅哉(名城大学),山中 三四郎(名城大学),河村 一(名城大学),大野 英之(名城大学),河村 英昭(名城大学)

著者名(英語): Masaki Miwa(Meijo University),Sanshiro Yamanaka(Meijo University),Hajime Kawamura(Meijo University),Hideyuki Ohono(Meijo University),Hideaki Kawamura(Meijo University)

キーワード: (‐dI/dV)-V特性|発電電力低下診断|開放|短絡|(‐dI/dV)-V characteristic|Diagnosis of generated output deterioration|open circuit|short circuit

要約(日本語): PVシステムの普及が進むと、保守・管理技術が必要になる。筆者らはPVシステムの発電電力低下により、I-V特性の形状が変化することに注目し、この電力低下を簡易的かつ自動的に診断する方法を構築するために検討してきた。
今回は、一般家庭用として用いられている約3kWのPVアレイを用い、これを構成しているPVモジュールの一部が、開放又は短絡の事故によって、発電電力が低下した場合の診断を試みた。持ち運びができる簡易的な計測装置を用いてPVアレイのI-V特性を計測し、その結果から(‐dI/dV)-V特性を求め、事故との相関性について検討を行い、この特性が発電電力低下診断に利用可能であることを明らかにした。

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