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オーバーシュート波形と標準雷インパルス電圧波形との残差に及ぼす残留インダクタンスの影響

オーバーシュート波形と標準雷インパルス電圧波形との残差に及ぼす残留インダクタンスの影響

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カテゴリ: 部門大会

論文No: 447

グループ名: 【B】平成19年電気学会電力・エネルギー部門大会講演論文集

発行日: 2007/09/12

タイトル(英語): Influence of the residual inductance of the impulse generator to the resisual curve between the overshoot and standard lightning impulse

著者名: 松本 聡(芝浦工業大学)

著者名(英語): Satoshi Matsumoto(Shibaura Institute of Technology)

キーワード: 雷インパルス電圧|残留インダクタンス|オーバーシュート|高電圧試験|Lightning Impulse|Residual Inductance|Overshoot|High Voltage Testing

要約(日本語): オーバーシュート波形と標準雷インパルス電圧波形との残差に及ぼす残留インダクタンスの影響について解析式を導出したので、これを用いて雷インパルス試験における波形の標準化について考察する。

PDFファイルサイズ: 820 Kバイト

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