15年に及ぶ太陽電池モジュールの暴露試験

カテゴリ: 部門大会

論文No: 140

グループ名: 【B】平成20年電気学会電力・エネルギー部門大会講演論文集

発行日: 2008/09/24

タイトル(英語): Long term field exposure test of PV modules for 15 years

著者名: 加藤 宏(電気安全環境研究所),水上 誠志郎(電気安全環境研究所),千葉 雅俊(電気安全環境研究所)

著者名(英語): Hiroshi Kato(Japan Electrical Safety & Environment Technology Laboratories),Seishirou Mizukami(Japan Electrical Safety & Environment Technology Laboratories),Masatoshi chiba(Japan Electrical Safety & Environment Technology Laboratories)

キーワード: 太陽光発電|暴露試験|太陽電池モジュール太陽電池モジュール

要約(日本語): 現在、太陽電池モジュールは、25年とも、30年とも言われる寿命が期待されるに至った。今後、この寿命に対する評価方法の開発が望まれている。この様な状況下において、モジュールの長期信頼性は重要なテーマのひとつとなっている。JETでは、国内3地点(北見、鳥栖、宮古島)におけるp-Si、a-Si、a-Si タンデム、モジュールに対する長期の暴露試験を実施しており、約15年間ものデータが得られている。本報告では、これらのモジュールの挙動について、出力変化の割合、3試験地点での出力変化の傾向等を紹介する。

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