VBOフリー光サイリスタ変換器のスナバ回路ストレスの検討

カテゴリ: 部門大会

論文No: 206

グループ名: 【B】平成20年電気学会電力・エネルギー部門大会講演論文集

発行日: 2008/09/24

タイトル(英語): Study on Snubber Circuit Stress of VBO Free LTT Converter

著者名: 田辺 茂(津山工業高等専門学校),貞森 勇人(津山工業高等専門学校),藤原 誠二(名古屋大学)

著者名(英語): Shigeru Tanabe(Tsuyama National College of Technology),Yuto Sadamori(Tsuyama National College of Technology),Seiji Fujiwara(Nagoya University)

キーワード: 光サイリスタ|VBOフリー|スナバ回路|損失|Light Triggered Thyristor|VBO Free|Snubber Circuit|Power Loss

要約(日本語): 順方向過電圧に対して自らターンオンして保護するVBOフリー光サイリスタが国内のHVDCやSVC用のサイリスタバルブに使用され始めた。この素子を利用したときの利点の一つは直列接続された素子のうちの一つの点弧回路が故障したときに、その素子を破損することなく運転を継続することができることである。しかしこの場合にその素子のスナバ回路はオーバストレスとなる。ストレスの通常運転時に対する増加割合について、計算機シミュレーションにより検討した結果、興味深い知見を得た。

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