経年GISのフランジ診断手法（その２）

カテゴリ: 部門大会

論文No: 309

グループ名: 【B】平成21年電気学会電力・エネルギー部門大会講演論文集

発行日: 2009/08/18

タイトル(英語): Examination of Diagnosis Method for Flange Face in Aged GIS

著者名: 大雲 浩道(東京電力),池田 次郎(東京電力),千田 英昭(東京電力),高浜 政夫(東芝),向田 彰久(東芝),金澤 幸雄(東芝)

著者名(英語): Hiromichi Okumo(TOKYO ELECTRIC POWER COMPANY),Jiro Ikeda(TOKYO ELECTRIC POWER COMPANY),Hideaki Chida(TOKYO ELECTRIC POWER COMPANY),Masao Takahama(Toshiba Corporation),Akihisa Mukaida(Toshiba Corporation),Yukio Kanazawa(Toshiba Corporation)

キーワード: ガス絶縁開閉装置|ＧＩＳ

要約(日本語): ガス絶縁開閉装置（ＧＩＳ）では、フランジ部の劣化が機器寿命に影響を与えることから注意が必要である。特に初期型ＧＩＳにおいては、構造上から雨水浸入によるフランジの発錆腐食等によるガスリークが顕在化しつつある。そこでフィールド機器の調査に加えて、ＧＩＳのフランジ面を模擬したモデルによる検証との比較をおこなった。また、グリースの寿命評価を実施し、熱劣化の進展速度、またグリースを塗布した試験片への塩水噴霧試験を実施し、グリースの劣化状態によるフランジ面の錆進展具合の確認をおこなった。上記試験の結果を加味し経年ＧＩ

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