高電圧印加時の自己回復性ヒューズ（ＳＲＦ）における粒子挙動と粒子帯電の影響

カテゴリ: 部門大会

論文No: 309

グループ名: 【B】平成22年電気学会電力・エネルギー部門大会講演論文集

発行日: 2010/09/01

タイトル(英語): Conducting Particles motion properties of Self-Recovering-micro-Fuse (SRF)under high voltage application and the effect of charging to the particle.

著者名: 杉谷 直紀(九州工業大学),御手洗 茂(九州工業大学),大塚信也 (九州工業大学)

著者名(英語): Sugitani Naoki(Kyusyu Insutitute of Technology),Mitarai Shigeru(Kyusyu Insutitute of Technology),Shinya Ohtsuka(Kyusyu Insutitute of Technology)

キーワード: 誘電泳動|部分放電|ヒューズ|自己回復|Dielectrophoresis|Partial discharge|Fuse|Self-Recovering

要約(日本語): 　著者らはこれまで、誘電泳動力FDPEを用いた自己回復性ヒューズ（SRF）素子を提案し、その基礎特性を検討している。これまで、FDPEの作用をより定量的に評価するため、SRF素子の電極ギャップ間に１つの金属粒子を配置し、その挙動時のFDPEに関連する力を電界計算に基づき検討してきた。本論文では、SRF素子への高電圧化の基礎検討として200Ｖ以上の直流電圧を印加して、粒子挙動とSRF動作を観測した。更に、電極ギャップ間の粒子個数および放電による粒子帯電の影響を検討した。

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