暴露試験を補完することを目的に実施した海外太陽光発電システム調査結果

カテゴリ: 部門大会

論文No: 353

グループ名: 【B】平成23年電気学会電力・エネルギー部門大会講演論文集

発行日: 2011/08/30

タイトル(英語): Research for photovoltaic system which was conducted for the purpose to interpolate exposure test

著者名: 加藤 宏(電気安全環境研究所),若嶋 由雄(電気安全環境研究所),卜部 亮(電気安全環境研究所)

著者名(英語): Hiroshi Kato(Japan Electrical Safety & Environment Technology Laboratories),Yoshio Wakashima(Japan Electrical Safety & Environment Technology Laboratories),Ryo Urabe(Japan Electrical Safety & Environment Technology Laboratories)

キーワード: 太陽電池|暴露試験|太陽光発電システム|劣化|photovoltaic|exposure test|photovoltaic system|Deterioration

要約(日本語): 現在，太陽電池モジュール（以下，「モジュール」と略す）は，25年とも，30年とも言われる寿命が期待されるに至った。しかし，この寿命を評価する標準的な試験方法は，現時点においては発表されておらず，今後この寿命を評価する標準化された加速試験の早急な開発が望まれている。この様な状況下において，JETは，先の加速試験を開発に向け，平成22年9月のＢ部門大会までに，最長17年に及ぶ暴露試験結果とともに，暴露試験の補完を目的に実施した国内太陽光発電システム調査結果を報告した。今回は，我が国の気象条件を超える環境下に設置されたモジュールの劣化事象の収集を目的とした海外太陽光発電システムの調査結果を報告する。

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