系統連系太陽光発電システムのIV特性スキャン形MPPT制御システムにおける検出時間制御法

カテゴリ: 部門大会

論文No: P39

グループ名: 【B】平成23年電気学会電力・エネルギー部門大会講演論文集

発行日: 2011/08/30

タイトル(英語): Detecting Interval Control Method in MPPT Control with I-V Characteristics Scanning for a Grid-Connected PV Generation System

著者名: 板子一隆 (神奈川工科大学)

著者名(英語): kazutaka Itako(Kanagawa Institute of Technology)

キーワード: 太陽光発電システム|MPPT|IV特性スキャン形IV特性スキャン形|PV Generation System|MPPT|IV Caracteristics Scanning

要約(日本語): 筆者は先に太陽光発電システムのための新しいMPPT制御法を提案した。この方式はある一定間隔でIV特性をスキャンして最大電力点を追従する方式である．この方式ではLの値を小さくすると検出のための時間が短くなり，A/Dコンバータの分解能によっては正しく検出できない場合があると考えられる。そこで、本論文では系統連系システムを想定し，この検出時間をある一定時間確保するための制御方法を提案している。シミュレーション結果より，本方式の有効性が明らかとなった。

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