PVセルのシャント抵抗とI-V特性、熱画像の関係

カテゴリ: 部門大会

論文No: 200

グループ名: 【B】平成24年電気学会電力・エネルギー部門大会

発行日: 2012/09/12

タイトル(英語): The Relation between I-V characteristics and the thermal imagery due to shunt resistance of PV cell

著者名: 松井 隆晃(名城大学),山中 三四郎(名城大学),大野 英之(名城大学)

著者名(英語): Takaaki Matsui(Meijo University),Sanshiro Yamanaka(Meijo University),Hideyuki Ohno(Meijo University)

キーワード: I-V特性|ホットスポット|シャント抵抗|熱画像|I-V characteristic|Hot spot|Shunt resistance|Thermal imagery

要約(日本語): PVシステムの出力が徐々に低下していく要因として様々なことが考えられるが、我々はセルに発生するホットスポットに着目し、ホットスポットと出力低下の関係について研究を行っている。
本報告では最初にセルに逆バイアス電圧をかけ、ホットスポットの発生状況とI-V特性の関係を検討する。
次に、実測されたI-V特性とシミュレーションで得られるI-V特性のフィッティングによりカーブフィッティングによりシャント抵抗の値を評価し、シャント抵抗の低下とセルの出力低下の関係を検討する。
最後に、シャント抵抗が低下したPVセルと熱画像の関係を検討する。

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