雷インパルス電圧試験におけるベースカーブ抽出法の改良検討?模擬記録波形を用いた検討?

カテゴリ: 部門大会

論文No: 336

グループ名: 【B】平成24年電気学会電力・エネルギー部門大会

発行日: 2012/09/12

タイトル(英語): Study on Improvement of Base Curve Extraction Method in Lightning Impulse Voltage Test - Study using Simulated Recorded Curve -

著者名: 植田 玄洋(東京電力),坪井 敏宏(東京電力),岡部 成光(東京電力)

著者名(英語): Genyo Ueta(Tokyo Electric Power Company),Toshihiro Tsuboi(Tokyo Electric Power Company),Shigemitsu Okabe(Tokyo Electric Power Company)

キーワード: 雷インパルス電圧試験|オーバーシュート率|ベースカーブ|K-factor|IEC 60060-1|Lightning impulse voltage test|Overshoot rate|Base curve|K-factor|IEC 60060-1

要約(日本語): 電力機器の高電圧試験技術を規定するIEC60060-1では，雷インパルス電圧試験について，K-factor関数を用いた波形換算手法が導入された。この波形処理手続きでは，二重指数関数でベースカーブをフィッティングする事が規定されている。しかしながら，オーバーシュート（OS）を伴う波形では，ベースカーブが高めにフィッティングされOS率の算出に不合理をもたらす場合がある。この課題に対して，先行研究では新たなベースカーブ抽出法について提案を行った。本報告では，数式で模擬した様々なOS波形に現行手法および改良手法を適用し，その得失を評価する。

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