XTAPを用いた大容量電力短絡試験設備の瞬時値解析モデル

カテゴリ: 部門大会

論文No: 361

グループ名: 【B】平成24年電気学会電力・エネルギー部門大会

発行日: 2012/09/12

タイトル(英語): Transient analysis model of high power short-circuit test facilities with XTAP

著者名: 大高聡也 (電力中央研究所),宮嵜 悟(電力中央研究所),葛間泰邦 (電力中央研究所),市川 路晴(電力中央研究所),合田 豊(電力中央研究所)

著者名(英語): Toshiya Ohtaka(Central Research Institute of Electric Power Industry),Satoru Miyazaki(Central Research Institute of Electric Power Industry),Yasukuni Kuzuma(Central Research Institute of Electric Power Industry),Michiharu Ichikawa(Central Research Institute of Electric Power Industry),Yutaka Goda(Central Research Institute of Electric Power Industry)

キーワード: 短絡試験|瞬時値解析|周波数応答解析|XTAP|EMTP|Short-circuit test|Transient analysis|Frequency response analysis|XTAP|EMTP

要約(日本語): 当所は，大容量電力短絡試験設備を使用した電力流通機器の短絡性能評価試験を実施している。当該設備は，電源となる短絡発電機を始め，投入開閉器，保護遮断器，限流リアクトル，高圧短絡変圧器といった数多くの要素機器で構成されている。所定の電流・電圧を供試器に供給するには，これらの要素機器に対して種々のパラメータを設定することが必要であり，設定したパラメータの妥当性を検証するには，瞬時値解析プログラムによる回路計算が有効である。そこで本稿では，試験担当者の負担軽減と試験回路の構築支援を目的として，当所が開発した瞬時値解析プログラムXTAPを解析環境とする大容量電力短絡試験設備の瞬時値解析モデルを開発したので報告する。

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