遮断過程で電流経路を変化させるヒューズエレメントの基礎的研究

カテゴリ: 部門大会

論文No: 362

グループ名: 【B】平成24年電気学会電力・エネルギー部門大会

発行日: 2012/09/12

タイトル(英語): Basic Research on the Fuse Element Pattern changing a Current Pathway in an Interruption Process

著者名: 土屋 正樹(埼玉大学),広瀬 健吾(埼玉大学),山納 康(埼玉大学)

著者名(英語): Masaki Tsuchiya(Saitama University),Kengo Hirose(Saitama University),Yasushi Yamano(Saitama University)

キーワード: インテリジェントヒューズ|エッチドヒューズ|ヒューズエレメント|ヒューズ|半導体保護|Intelligent fuse|Etched fuse|Fuse element|Fuse|Semiconductor protection

要約(日本語): 本研究は、電流遮断の過程でヒューズエレメント上の電流経路が変化するという全く新しい発想を持ったインテリジェントヒューズの開発研究である。セラミック基板上に密着したネットワーク状のエレメントを有し、通常時は消費電力を抑制し、事故電流遮断時は電流経路の変化によって通過する遮断点を増加させて高い遮断性能を発揮する。電流経路の変化は、溶断時間は同じだがアーク特性が異なる2種類の遮断部によって行われるが、最適な遮断部構造の調査段階である。そこでインテリジェントヒューズを構成する回路一つ分の単位エレメントを数多く試作して遮断試験を行い、電流経路を変化させることに成功したが、遮断特性の向上には至らなかった。

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