シールドガス流量低下が及ぼすアーク径方向の電子密度低下

カテゴリ: 部門大会

論文No: P25

グループ名: 【B】平成24年電気学会電力・エネルギー部門大会

発行日: 2012/09/12

タイトル(英語): Decrement of Current Density to Radial Direction of Arc Affected by
Decrement of Shielding Gas

著者名: 田崎 達也(東京都市大学),福田 裕基(東京都市大学),岩尾 徹(東京都市大学),湯本 雅恵(東京都市大学)

著者名(英語): Tatuya Tasaki(Tokyo City University),Hiroki Fukuda(Tokyo City University),Toru Iwao(Tokyo City University),Motoshige Yumoto(Tokyo City University)

キーワード: アーク溶接|シールドガス|熱伝導|陽極ジェット|電子密度|Arc welding|Shielding gas|Thermal coductivity|Anode jet|Electron density

要約(日本語): アーク溶接法は簡便性，気密性，機械的強度が優れる特長を持ち，産業および工業分野で不可欠な技術である。しかし，アーク溶接では電流，シールドガス流量や種類によって入熱不足や入熱過多による溶接欠陥が起こる。したがって，本紙では溶接欠陥の原因とされる陽極部のアーク収縮現象（陽極ジェット）の解明するため，アーク径方向の電子密度の低下が及ぼすシールドガス流量の寄与に着目し実験を行った。結果として，流量が5～4 slmの低下時に温度と電子密度が低下し，3 slmで平均電子密度が約2.3～3.6×10²²m^-3以下になった時，電流が中心部に集中し高温で高電子密度の陽極ジェットが発生した。流量の低下による温度，電子密度の変化はほとんどない。

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