影響範囲表とイベントツリーを用いた保護システムの信頼度評価法

カテゴリ: 部門大会

論文No: 119

グループ名: 【B】平成25年電気学会電力・エネルギー部門大会

発行日: 2013/08/27

タイトル(英語): A Reliability Evaluation Method of a Protection System Unavailability Tables and Event Trees

著者名: 坂 泰孝(名古屋工業大学),西脇 浩史(名古屋工業大学),青木 睦(名古屋工業大学),鵜飼 裕之(名古屋工業大学),大谷 哲夫(名古屋工業大学,電力中央研究所),電力中央研究所 (中部電力),天雨 徹(中部電力),斎木 優一(名菱電子)

著者名(英語): Yasutaka Saka(Nagoya Institute of Technology),Kouichi Nishiwaki(Nagoya Institute of Technology),Mutsumi Aoki(Nagoya Institute of Technology),Hiroyuki Ukai(Nagoya Institute of Technology),Tetsuo Otani(Nagoya Institute of Technology,Central Research Institute of Electric Power Industry),Central Research Institute of Electric Power Industry (Chubu Electric Power Co.,Inc.),Toru Amau(Chubu Electric Power Co.,Inc.),Yuichi Saiki(MEIRYO DENSHI Electronic Co.,Ltd.)

キーワード: 信頼性評価|IED|保護システム保護システム|Reliability evaluation method|IED|Protection system

要約(日本語): 近年、マイクロプロセッサ技術の向上により保護機能、制御機能を統合したIED (Intelligent Electronic Device)が普及している。また、変電所構内システムの国際標準規格であるIEC 61850の導入も進んでいる。これまでに、変電所の物理的なシステム構成の信頼性評価は行われているが、保護システムまで考慮している評価手法はない。
　そこで、本論文では，IEDによる異なるシステム構成を各モジュールの故障率ならびにイベントツリー手法により，信頼性の定量評価手法について提案する。提案法の有効性を２回線送電線モデルおける保護システムを対象に検証した結果を述べる。

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