各種モジュールに発生するホットスポットの調査

カテゴリ: 部門大会

論文No: 246

グループ名: 【B】平成25年電気学会電力・エネルギー部門大会

発行日: 2013/08/27

タイトル(英語): Investigation of hot spots occurring to various photovoltaic modules

著者名: 松井 隆晃(名城大学),山中 三四郎(名城大学),大野 英之(名城大学)

著者名(英語): Takaaki Matsui(Meijo University),Sanshiro Yamanaka(Meijo University),Hideyuki Ohno(Meijo University)

キーワード: I-V特性|ホットスポット|バイパスダイオードバイパスダイオード|I-V characteristic|Hot spot|Bypass-Diode

要約(日本語): 長期に渡りPVモジュールを使用しているとバイパスダイオードが焼きつき、機能しなくなる場合がある。そこに樹木や建物の影が長期に渡りかかり続けるとPVモジュールのセルにホットスポットが発生し、高温になることがある。
今回は多結晶シリコン系ＰＶモジュールに発生するホットスポットが違うメーカーのによってバックシートに及ぼす影響を調査し、同じメーカーの新品ＰＶモジュールでも単結晶、多結晶の違いでホットスポットのでき方やに違いがみられたので、その結果を報告する。

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