微小欠陥を含む絶縁物のV-t特性　- No.6 周波数加速による破壊試験 -

カテゴリ: 部門大会

論文No: 205

グループ名: 【B】平成26年電気学会電力・エネルギー部門大会

発行日: 2014/09/10

タイトル(英語): V-t Characteristics of Micro-defects in Inner Epoxy Insulators - No.6 Breakdown Test by Frequency Acceleration -

著者名: 植田 玄洋(東京電力),和田 純一(東京電力),岡部 成光(東京電力),何 志賢(三菱電機),西田 智恵子(三菱電機),宮下 信(三菱電機),亀井 光仁(三菱電機)

著者名(英語): Genyo Ueta(Tokyo Electric Power Company),Junichi Wada(Tokyo Electric Power Company),Shigemitsu Okabe(Tokyo Electric Power Company),Shiken Ka(Mitsubishi Electric Corporation),Chieko Nishida(Mitsubishi Electric Corporation),Makoto Miyashita(Mitsubishi Electric Corporation),Mitsuhito Kamei(Mitsubishi Electric Corporation)

キーワード: ガス絶縁開閉装置（GIS）|エポキシ絶縁物|微小欠陥|クラック|部分放電周波数加速|Gas insulated switchgear|Epoxy insulator|Micro defect|Crack|Partial dischargeFrequency acceleration

要約(日本語): 現在，ガス絶縁開閉装置（GIS）の高経年化が進みつつあり，その健全性の見極めが重要となってきている。GISの絶縁面での寿命を決める要因の一つとして，絶縁スペーサの劣化が考えられる。GISを長期に信頼性を保ちつつ使用するには，経年による絶縁物の劣化特性を把握する必要がある。本課題に対して，まずエポキシ絶縁物中に極微小な欠陥が存在した場合の劣化特性（V-t特性）を電界加速により取得した。続いて，実運転電界レベルでの長時間V-t特性を取得する手法として周波数加速試験に着目し，周波数加速による部分放電現象の追従性について調査を行った。本報告では，周波数加速による破壊試験を実施し，その破壊時間から周波数加速試験の等価性を検討する。

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