コンデンサバンク自動開閉試験設備の導入

カテゴリ: 部門大会

論文No: 268

グループ名: 【B】平成26年電気学会電力・エネルギー部門大会

発行日: 2014/09/10

タイトル(英語): Installation of automatic test facility for capacitor bank current switching

著者名: 中山 明彦(明電舎),高橋 哲仙(明電舎),諏訪 晃弘(明電舎),米山 圭祐(明電舎),長竹 和浩(明電舎),齋藤 仁(明電舎)

著者名(英語): Akihiko Nakayama(Meidensha),Tetsushi Takahashi(Meidensha),Akihiro Suwa(Meidensha),Keisuke Yoneyama(Meidensha),Kazuhiro Nagatake(Meidensha),Hitoshi Saito(Meidensha)

キーワード: コンデンサバンク|自動試験設備|真空遮断器真空遮断器|Capacitor bank|Automatic test facility|Vacuum circuit breaker

要約(日本語): 調相設備に用いる遮断器は多頻度開閉のため，開閉寿命が長いことが要求される。一方，コンデンサバンク開閉に関連する規格では顧客が要求する回数(5000~10000回)を満足するものとなっていないため，規格要求のみならず，電気的耐久性能を確認する必要がある。今回，定格電圧84kV以下のVCBを対象にコンデンサバンク自動開閉試験設備を実用化したので紹介する。本設備は投入回路と遮断回路から成り，プログラマブル・コントローラにより自動運転される。また，各試験の間，測定されたデータはコンピュータによって処理され，異常の有無をリアルタイムで監視することができる。

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