太陽光発電システムの診断法に関する研究 I-V特性によるバイパスダイオードの故障判定法（その1）

カテゴリ: 部門大会

論文No: 241

グループ名: 【B】平成27年電気学会電力・エネルギー部門大会

発行日: 2015/08/26

タイトル(英語): Study on Diagnostic Method of Photovoltaics System - Method for Failure Evaluation of Bypass Diode by I-V Curve(Part 1)

著者名: 佐藤 孝俊(名城大学),羽田健太郎 (名城大学),山中 三四郎(名城大学)

著者名(英語): Takatoshi Sato(Meijo University),Kentaro Hada(Meijo University),sansiro Yamanaka(Meijo University)

キーワード: 太陽光発電システム|保守点検技術|バイパスダイオード|I-V特性|短絡故障開放故障|photovoltaics system|maintenance and inspection technology|bypass diode|I-V curve|short circuit faultopen circuit fault

要約(日本語): 　太陽光発電システムの普及に伴って，モジュールの一部に影がかかることにより発生するホットスポットが懸念されている。発生防止策として，バイパスダイオードの取り付けが一般的であることから，その機能が正常か否かを判定することは保守点検上で必須と言える。
　本研究では，I-V特性からバイパスダイオードの短絡および開放故障を判定する方法について検討した。クラスター単位で影をかけたモジュールに対し，バイパスダイオードを意図的に短絡および開放状態とした時のI-V特性から故障判定を試みた。その結果，それぞれのI-V特性からバイパスダイオードの短絡および開放故障判定が可能であったため，保守点検技術としての有効性を示した。

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