遮断過程で電流経路を変化させるヒューズエレメントの遮断部構造の検討

カテゴリ: 部門大会

論文No: 298

グループ名: 【B】平成27年電気学会電力・エネルギー部門大会

発行日: 2015/08/26

タイトル(英語): Study of the Interruption Parts on the Fuse Element Pattern Changing a Current Channel in Interruption Process

著者名: 松 太亮(埼玉大学),山納 康(埼玉大学)

著者名(英語): Taisuke Matsuzaki(Saitama University),Yasushi Yamano(Saitama University)

キーワード: ヒューズ|インテリジェントヒューズ|エッチドヒューズ|ヒューズエレメント|半導体保護アーク放電|Fuse|Intelligent fuse|Etched fuse|Fuse element|Semiconductor protectionArc discharge

要約(日本語): 本稿は、電流遮断の過程でヒューズエレメント上の電流経路が変化するという新しい発想を持ったインテリジェントヒューズの性能向上に向けた研究である。セラミック基板上に密着したネットワーク状のエレメントを有し、通常時は消費電力を抑制し、事故電流遮断時は電流経路の変化によって通過する遮断点を増加させて高い遮断性能を発揮する。2種類の遮断部の溶断時間を同じとし、アーク特性に差をつけることで電流経路を変化させることに成功しているが、現段階では性能向上には至っていない。そこでアーク時間という観点から遮断部の構造を検討し、インテリジェントヒューズを構成する回路一つ分の単位エレメントを試作して遮断試験を行った。

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