太陽光発電システムの診断法に関する研究-I-V特性によるバイパスダイオードの故障判定法（その6）-

カテゴリ: 部門大会

論文No: 134

グループ名: 【B】平成28年電気学会電力・エネルギー部門大会

発行日: 2016/09/05

タイトル(英語): Study on Diagnostic Method of Photovoltaics System - Method for Failure Evaluation of Bypass Diode by I-V Curve (Part 6) -

著者名: 佐藤 孝俊(名城大学),羽田 健太郎(名城大学),山中 三四郎(名城大学)

著者名(英語): Takatoshi Sato|Kentaro Hada|Sanshiro Yamanaka

キーワード: 太陽光発電システム|保守点検技術|バイパスダイオード|I-V特性|開放故障,photovoltaics system,maintenance and inspection technology,bypass diode,I-V curve,open circuit fault

要約(日本語): 太陽電池モジュールには，バイパスダイオードと呼ばれる素子が取り付けられている。このバイパスダイオードは，ホットスポットの発生や出力の低下を抑制するように働くため，保守点検でその機能を確認することが重要であると言える。そこで筆者らは，一つのI-V特性からバイパスダイオードの短絡または開放故障を同時に判定する方法について検討している。これまでに，遮光したI-V特性からバイパスダイオードの開放故障が判定できることを実験的に示した。しかし，故障判定時の状況によっては，判定を誤ることや不具合が誘発されることを懸念している。本稿では，シミュレーションの結果からこの二つの問題を提起した。

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