太陽電池モジュールのバイパス回路故障検出技術　<br>―温度変化の二値化による故障検出法―

カテゴリ: 部門大会

論文No: 135

グループ名: 【B】平成28年電気学会電力・エネルギー部門大会

発行日: 2016/09/05

タイトル(英語): Fault Detection Technology of Bypass Circuit of PV module
-Fault Detection Method by Binarization of Temperature Change-

著者名: 加瀬 亮一(日本大学),西川 省吾(日本大学)

著者名(英語): Ryoichi Kase|Shogo Nishikawa

キーワード: 太陽電池|バイパス回路|直流電源|赤外線カメラ|二値化,Photovoltaic,Bypass Circuit,DC power supply,IR camera,Binarization

要約(日本語): 太陽電池モジュールのバイパス回路が開放故障すると、太陽電池に影がかかった際にホットスポットが発生する恐れがある。一方、現状の検出技術は時間がかかる、またはストリング内の異常モジュールの特定ができないなどの課題がある。筆者らは今までに、外部電源と赤外線カメラを用いた太陽電池表面の温度変化の観察による簡易的な検出方法を開発した。しかし、微小な温度変化をその場の視覚のみで判断するのには限界がある。そのため、赤外線カメラにより測定した熱画像のデジタル情報をもとに、温度上昇の変化を二値化することで、より簡易的に故障位置を特定できる検出方法を検討したので報告する。

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