シリコーンゲルで封止したプリント配線パターン導体ギャップのESD試験によるフラッシオーバ電圧特性とパターン導体形状の影響に関する基礎検討
シリコーンゲルで封止したプリント配線パターン導体ギャップのESD試験によるフラッシオーバ電圧特性とパターン導体形状の影響に関する基礎検討
カテゴリ: 部門大会
論文No: 435
グループ名: 【B】平成28年電気学会電力・エネルギー部門大会
発行日: 2016/09/05
タイトル(英語): Flashover Voltage Characteristics of the Printed Wiring Pattern Gap Sealed with Silicone Gel under the ESD test and the Influence of the Pattern Conductor Shape
著者名: 松本 康貴(九州工業大学),神代 真也(九州工業大学),大塚 信也(九州工業大学),吐合 一徳(安川電機),山田 健伸(安川電機),山口 芳文(安川電機)
著者名(英語): Koki Matsumoto|Shinya Kojiro|Shinya Ohtsuka|Kazunori Hakiai|Yasunobu Yamada|Yoshifumi Yamaguchi
キーワード: 静電気放電|プリント配線|フラッシオーバ電圧|シリコーンゲル,Electrostatic discharge,Printed wiring,Flashover voltage,Silicone gel
要約(日本語): 電子機器の小型化・高性能化に伴うプリント配線板のファインパターン化の促進から、絶縁信頼性に関する検討が行われている。筆者らは、これまでシリコーンゲルで封止されたプリント配線板上円盤状パターン導体間での静電気試験器を用いたFOV特性をパターン電極時間のギャップ長gを変化させESD絶縁特性評価を行った。本論文では、ESD試験機を用いて特性の異なるシリコーンゲルを用いたプリント配線板上バターン導体ギャップのフラッシオーバ特性評価並びに、パターン形状特性評価を行った。
PDFファイルサイズ: 262 Kバイト
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