高経年550 kV ガス絶縁開閉装置の劣化調査（その２）

カテゴリ: 部門大会

論文No: 347

グループ名: 【B】平成28年電気学会電力・エネルギー部門大会

発行日: 2016/09/05

タイトル(英語): Study of deterioration on aged 550 kV GIS (part 2)

著者名: 山口 一徳(九州電力),大山 隼人(九州電力),高濱 政夫(九州電力),石崎 雄介(九州電力),大塚 卓弥(三菱電機),川田 牧子(三菱電機),笹森 健次(三菱電機)

著者名(英語): Kazunori Yamaguchi|Hayato Ooyama|Masao Takahama|Yusuke Ishizaki|Takuya Otsuka|Makiko Kawada|Kenji Sasamori

キーワード: ガス絶縁開閉装置|劣化調査|グリース|銀めっき,Gas Insulated switchgear,Deterioration investigation,Grease,Silver plating

要約(日本語): 1970年代後半から550 kV ガス絶縁開閉装置が導入されてきているが、近年、設計想定寿命を超過した高経年器が増加している。このような状況下で機器信頼度を維持しつつ，寿命の見極めと更新時期の適正化を図ることが求められている。このため，今回経年37年の550 kV GISの一部を解体・工場持帰りを行い，GCBを多数回連続開閉し，グリースおよび銀めっきについて、劣化状態の推移を調査したので，その概要を報告する。

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