高経年550kVガス絶縁開閉装置の劣化調査（その3）- Oリングの劣化要因別評価 -

カテゴリ: 部門大会

論文No: 348

グループ名: 【B】平成28年電気学会電力・エネルギー部門大会

発行日: 2016/09/05

タイトル(英語): Study of deterioration on aged 550kV GIS(part3)-Evaluation of O-ring based on various ageing factors-

著者名: 山口 一徳(九州電力),大山 隼人(九州電力),髙濵 政夫(九州電力),石崎 雄介(九州電力),佐藤 光馬(三菱電機),大塚 卓弥(三菱電機),笹森 健次(三菱電機)

著者名(英語): Kazunori Yamaguchi|Hayato Ooyama|Masao Takahama|Yuusuke Ishizaki|Koma Sato|Takuya Otsuka|Kenji Sasamori

キーワード: ガス絶縁開閉装置|劣化調査|OリングOリング,Gas Insulated Switchgear,Deterioration investigation,O-ring

要約(日本語): 機器の高経年化が進む中，劣化データ蓄積を目的として，フィールドの高経年機器の劣化調査を行っている。経年37年の550kV GISのOリング劣化調査の結果，シール雰囲気，Oリング断面径，設置部位の日射状態の違いによる，圧縮永久歪みの変化が確認された。GISの構成部位別に調査すると，日射の影響が強いブッシング上部や空気-空気間シールとなるガスバルブ近傍のOリングにおいて，劣化進展が早い傾向にあることが分かった。

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