高経年550kVガス絶縁開閉装置の劣化調査（その4）-等価温度を用いたOリング寿命評価 -

カテゴリ: 部門大会

論文No: 349

グループ名: 【B】平成28年電気学会電力・エネルギー部門大会

発行日: 2016/09/05

タイトル(英語): Study of deterioration on aged 550 kV GIS (part 4)-Lifetime evaluation of O-ring based on equivalent temperature-

著者名: 山口 一徳(九州電力),大山 隼人(九州電力),高濱 政夫(九州電力),石崎 雄介(九州電力),佐藤 光馬(三菱電機),川田 牧子(三菱電機),大塚 卓弥(三菱電機)

著者名(英語): Kazunori Yamaguchi|Hayato Ooyama|Masao Takahama|Yuusuke Ishizaki|Koma Sato|Makiko Kawada|Takuya Otsuka

キーワード: ガス絶縁開閉装置|劣化調査|OリングOリング,Gas Insulated switchgear,Deterioration investigation,O-ring

要約(日本語): 経年機器の更新時期の最適化を目的として，フィールドの高経年機器の劣化調査によるデータ蓄積を行っている。経年37年の550kV GISのOリング劣化調査の結果，他変電所のGISと比べて劣化進展が緩やかであったため，その原因を調査した。各種環境条件から機器の等価温度を算出した結果，調査対象のGISは通電負荷の影響が小さく，他変電所に比べて等価温度が低い傾向にあることが分かった。また，同様の調査を行った変電所の等価温度と比較した結果，等価温度の差が約10℃でシール推定寿命は約2倍となり，寿命評価において一般的な10℃2倍則と一致する結果が得られた。

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