固有TRV測定におけるダイオード特性の影響評価

カテゴリ: 部門大会

論文No: 348

グループ名: 【B】平成29年電気学会電力・エネルギー部門大会

発行日: 2017/09/05

タイトル(英語): Effect evaluation of diode characteristic in prospective transient recovery voltage measurement

著者名: 永澤 翔平(日立製作所),大橋 常良(日立製作所),佐藤 賢(日立製作所),木田 順三(日立製作所)

著者名(英語): Shohei Nagasawa|Tsuneyoshi Ohashi|Ken Sato|Junzo Kida

キーワード: 理想遮断|過渡回復電圧|大電力試験|ダイオード|水銀リレー近距離線路故障遮断,ideal current breaking,transient recovery voltage,high power testing,diode,mercury relayshort line fault interruption

要約(日本語): 　遮断器等の電流遮断試験では、試験回路の過渡回復電圧(TRV)は理想スイッチで電流遮断した場合の回路固有値での評価が要求されているが、理想スイッチは実在しないため、代わりに高速スイッチングダイオード等を用いて低電圧で測定する。最近、固有TRV測定は用いるダイオードの特性に大きく影響されることが報告されている。しかし、固有TRVの真値を知ることは難しく、ダイオード特性がTRVに与える影響を定量的に評価した例は少ない。本報告では理想スイッチを水銀リレーで模擬し、近距離線路故障遮断の模擬線路における固有TRVの真値の実測を試み、これを基準として各種ダイオードを用いて測定したTRVを比較評価した。

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