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    シリコーンゲル絶縁における放電進展の観測と絶縁破壊後の絶縁回復特性に関する検討
シリコーンゲル絶縁における放電進展の観測と絶縁破壊後の絶縁回復特性に関する検討
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カテゴリ: 部門大会
論文No: 316
グループ名: 【B】平成29年電気学会電力・エネルギー部門大会
発行日: 2017/09/05
タイトル(英語): Observation of Discharge Development in the Silicone Gel Insulator and the Recovering Properties after the Breakdown
著者名: 松本 康貴(九州工業大学),福山 晃大(九州工業大学),大塚 信也(九州工業大学)
著者名(英語): Matsumoto Koki|Akihiro Fukuyama|Shinya Ohtsuka
キーワード: シリコーンゲル|絶縁|回復特性|放電進展|ゲル,Silicone Gel,Insulator,Recovering Properties,Discharge Development,Gel
要約(日本語): 筆者らはこれまでパワーデバイスの封止材に使用されているシリコーンゲルの絶縁特性に関する検討を電界利用率や印加電圧条件を変化さえて実施してきた。本研究では、シリコーンゲル中に設置された針対平板電極系での絶縁破壊現象を高速ビデオカメラで観測し、放電進展の様子を観測した。また、このような絶縁破壊後の絶縁回復特性ならびにプリント基板上のESD試験後の回復特性を検討した。
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