等角写像を用いたCVケーブル半導電層の抵抗率測定法の理論－隣接コアのある場合の測定電極配置－

カテゴリ: 部門大会

論文No: 330

グループ名: 【B】平成30年電気学会電力・エネルギー部門大会

発行日: 2018/09/12

タイトル(英語): Measurement Method Thory of Resistivity of the Semi-conducitve Layers for XLPE Cables Based on Conformal Mapping Thory - In Case of Having Adjacent Cable Cores -

著者名: 渡辺 和夫(千葉大学／IEEJプロフェッショナル)

著者名(英語): Kazuo Watanabe()

キーワード: CVケーブル|半導電層|抵抗率|等角写像|測定方法,XLPE cable,Semi-conducive layer,Resistivity,Conformal mapping,Measurement method

要約(日本語): 高電圧CVケーブルの絶縁体の高圧導体側と接地導体側との界面は電界緩和のため薄肉の平滑半導電層が施される。この半導電層の抵抗率測定方法について、これまで筆者はケーブル端部に測定電極を取り付ける方法や長尺ケーブルで両端部を使用できない場合の非破壊測定方法について報告してきた。本報告では、ドラムに密巻きされた長尺ケーブルコアの最外層のコア表面を利用した非破壊測定法の電極配置について検討した。これには、微分幾何と等角写像を活用した。

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