SLF模擬線路のTRV測定の考察

カテゴリ: 部門大会

論文No: 353

グループ名: 【B】平成30年電気学会電力・エネルギー部門大会

発行日: 2018/09/12

タイトル(英語): Investigation of TRV Measurement for SLF Artificial Line

著者名: 野中 強也(東京電機大学),松田 敬介(東京電機大学),腰塚 正(東京電機大学),新海 健(東京工科大学),萩森 英一(東京大学先端電力エネルギー・環境技術教育研究センター),池田 久利(東京大学先端電力エネルギー・環境技術教育研究センター)

著者名(英語): Kyoya Nonaka|Keisuke Matsuda|Tadashi Koshizuka|Takeshi Shinkai|Eiichi Haginomori|Hisatoshi Ikeda

キーワード: SLF模擬線路|過渡回復電圧|周波数応答周波数応答,SLF artificial line,Transient Recovery Voltage,Frequency Response

要約(日本語): STL(Short-circuit Testing Liaison)では、SLF模擬線路のTRV測定の不確かさについて検討している。そこでは、独自のSLF模擬線路を作成し、その模擬線路を各国の短絡試験ラボで持ち回り測定することで、各国の短絡試験ラボの結果を比較することを行っている。
本論文では、STLのSLF模擬線路を用いた測定の概要と、その注意点を、周波数に着目して考察した。計算では、コンデンサ容量を小さくし、模擬線路への通電電流の周波数を小さくすると、TRV振幅率が大きくなることが確認できた。また、模擬線路に用いられる空芯リアクトルは、周波数によりインダクタンスの値が変わることがあるという結果が得られた。

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