PHILによる系統連系試験環境構築についてースマートインバータ試験ー

カテゴリ: 部門大会

論文No: 114

グループ名: 【B】令和元年電気学会電力・エネルギー部門大会

発行日: 2019/08/23

タイトル(英語): Advanced Platform Development for Inverter Interconnection Testing with Power-Hardware-in-The-Loop (PHIL)

著者名: 橋本 潤(産業技術総合研究所),喜久里 浩之(産業技術総合研究所),菅原 秀一(産業技術総合研究所),鈴木 正一(産業技術総合研究所),タハ　セリム ウスツン(産業技術総合研究所),末包 和男(産業技術総合研究所),大谷 謙仁(産業技術総合研究所)

著者名(英語): Jun Hashimoto|Hiroshi Kikusato|Shuichi Sugahara|Masaichi Suzuki|Taha Selim Ustun|Kazuo Suekane|Kenji Otani

キーワード: PHIL|スマートインバータ|系統サポート機能|系統連系試験|系統連系規定IEEE 1547.1,PHIL,Smart inverter,Grid support function,Grid interconnection test,Grid codeIEEE 1547.1

要約(日本語): 近年，各国のグリッドコード改訂が進んでいる。分散電源の系統連系試験法であるIEEE 1547.1のドラフトでは，試験法のひとつとしてHardware-in-The-Loop（HIL）技術が明記される見込みである。このHIL技術は，デジタルリアルタイムシミュレータ（DRTS）を用いることでより現実に近い環境での試験を可能とする。本報告では，世界最大級のパワエレ試験環境である産総研のスマートシステム研究棟の5MVA系統模擬電源を用いPHIL試験環境を構築し，大型インバータ試験に適応した例について報告する。

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