電圧分担コンデンサ付き高電圧VCB における合成短絡投入試験法の検討

カテゴリ: 部門大会

論文No: 326

グループ名: 【B】令和元年電気学会電力・エネルギー部門大会

発行日: 2019/08/23

タイトル(英語): Study on Synthetic Short Circuit Making Test Method for a High-voltage VCB with Voltage Grading Capacitor.

著者名: 乙幡 将吾(東芝エネルギーシステムズ),橋本 優平(東芝エネルギーシステムズ),種子田 賢宏(東芝エネルギーシステムズ),宮崎 健作(東芝エネルギーシステムズ)

著者名(英語): Shogo Oppata|Yuhei Hashimoto|Takahiro Taneda|Kensaku Miyazaki

キーワード: 真空遮断器|投入試験|合成試験|合成投入試験,Vacuum Circuit Breaker,Making test,Synthetic short circuit test,Synthetic short circuit making test

要約(日本語): SF6ガス代替技術の1 つとして真空遮断器（VCB）の高電圧化の開発が進められている。高電圧化施策の1つとしてVCBと並列に分圧コンデンサを接続し、多点切りとする方法がある。この場合、合成短絡投入試験において、プレアーク発生時に分圧コンデンサより高周波の電流が流れ、それにより電流ゼロが発生し、消弧性能の高いVCBでは電流が遮断されてしまう可能性がある。このため、試験規格で要求されている300?s以内に短絡電流を供給する事が出来ず、試験が不成立になる事が予想される。今回、初期過渡投入電流（ITMC）回路を２並列挿入する事で、電流ゼロ点が発生しない方法を検討し、解析と試験でその効果を確認した。

PDFファイルサイズ: 718 Kバイト